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    考种系统

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    玉米考种系统

  • 产品型号:

    YF

  • 玉米考种系统专业用于玉米籽粒、果穗、截面的考种以及出苗数、整齐度、均匀度分析。

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  •   产品简介:玉米考种系统用于玉米籽粒、果穗、截面的考种以及出苗数、整齐度、均匀度分析。云飞科技测产考种箱性能稳定,是各科研单位,种植基地的选品牌。
      籽粒分析:粒数,粒长,粒宽,粒型,均匀度,平均粒长,平均粒宽,有胚尖粒数,面积,周长,直径,长宽比例,圆度,千粒重等;
      截面分析:籽粒行数,轴粗,粒长,粒宽。可一次性自动测量至少15个截面。
      整穗分析:果穗长度,穗粗,秃尖长,穗型,左右穗缘角,穗行角,平均粒高(厚),每粒玉米的高度(厚)。穗行数、穗粒数、可自动获得至少五个果穗平均分析值。
      其他分析:千粒重,百粒重,籽粒产量。
     
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